| Messparameter | Kapazität, Diode, Induktivität, MOSFET, Widerstand, SCR, Thyristor, Transistor
| Gleichstromwiderstand, Diode, Verlustfaktor, Ersatzserienwiderstand, Impedanz, Induktivität, Kapazität, Gütefaktor, Reaktanz, Widerstand
| Kapazität, Diode, ESR, Induktivität, LCR, MOSFET, NPN, PNP, Widerstand, Transistor
| Kapazität, Diode, Induktivität, MOSFET, NPN, PNP, Widerstand, Transistor
| L, C, R | L, C, R | L, C, R, Dioden, Trioden, Transistoren, MOSFET, Thyristor, BJT | Batteries, diodes, IGBTs, JFETs, N-channel MOSFETs, P-channels, capacitors, NPN and PNP transistors, triacs, triodes, resistors, Zener diode
| Batterie, Diode, ESR, IGBT, JFET, Kondensator, LCR, N-Kanal- und P-Kanal-MOSFET, NPN- und PNP-Transistor, Triac, Triode, Widerstand
| Dioden, Feldeffekttransistoren, Induktivität, Kapazität, Spannung, Thyristoren, Trioden, Widerstand
| L, C, R, Diode, Triode, Transistor, MOSFET, IGBT, JFET, Triac | Verlustfaktor (D), Gleichstromwiderstand, Induktivität, Kapazität, Phasenwinkel, Gütefaktor (Q), Widerstand, Äquivalenter Serien-/Parallelwiderstand (ESR oder Rp)
| Diodes, dual diodes, field-effect transistors, inductors, infrared decoding, capacitors, light-emitting diodes, regulators, thyristors, triodes, resistors, Zener diode
| Battery, Diode, IGBT, JFET, capacitor, N-channel and P-channel MOSFET, NPN and PNP transistor, triac, triode, resistor, Zener diode
| Diode, IGBT, JFET, Kondensator, MOSFET, Transistor, Triac, Triode, Widerstand
| L, C, R, Diode, Triode, Transistor, MOSFET, IGBT, JFET, Triac |
| Anzeige | TFT, 160 x 128 | 1,14, Farbdisplay, Keine, Keine
| 1,8-Zoll-TFT-Bildschirm, Farbbildschirm | LCD | TFT-GRAFIK
| LCD, 1.8 Zoll | TFT-Grafikdisplay, 160 x 128 | 1. 8, TFT, Keine, Keine
| 1. 8, 160 x 128, TFT, Keine
| TFT, 160 x 128 | TFT-Farbdisplay (160 x 128) | 5, Dual-Display, Keine, Keine
| TFT-Grafikdisplay | LCD
| 4,6 cm, TFT, Keine, Keine
| 1. 8, 160 x 128, TFT, Keine
|
| Zusätzliche Funktionen | Diodentest, Triac-Messung, Transistortest, IR-Decoder | Automatic power off, automatic recognition, data hold, data storage, component identification, parameter display ESR, D value, Q value, Z value, X value
| Diodentest, Durchgangsprüfung | Diodentest, Durchgangsprüfung, Transistortest (NPN, PNP, MOSFET), Zenerdiodenmessung | Automatische Abschaltung, Infrarot-Codierung, Lithium-Ionen-Akkuspannungserkennung, Selbsttest mit automatischer Kalibrierung, TFT-Grafikdisplay, Zenerdioden-Erkennung
| Kalibrierung/Korrektur, Kommunikationsschnittstellen, Bauteilidentifikation, Datenverarbeitung
| IR-Decoder, automatische Abschaltung, Diodentest, Triodentest, Transistortest | Automatische Kalibrierung, Bauteilidentifizierung, Datenanzeige
| Kommunikationsschnittstellen, Bauteilidentifikation, Datenverarbeitung
| Automatische Zenerdiodenerkennung, Erkennung der Lithium-Ionen-Akkuspannung, Infrarot-Empfangsanweisungen, Infrarot-Wellenformanzeige, Selbsttest mit automatischer Kalibrierung, Unterstützt Infrarot-Codierung
| Automatische Abschaltung, Automatische Erkennung, Bauteilidentifizierung, IR-Decodierung, Selbstkalibrierung
| Sortierfunktion | Infrarot-Decodierung, Zenerdioden-Test | Infrarotwellenformerkennung, Selbstkalibrierung, Zener-Dioden-Erkennung
| Diodentest, Triodentest, Transistortest, Widerstandsmessung, Kapazitätsmessung, MOSFET-Test, IGBT-Test, JFET-Test, Triac-Test, Automatische Kalibrierung | Diodentest, Transistortest |
Erstellt von TRUFL AIam November 3, 2025